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新品上市!镀层测厚仪XF-P1,XF-P3可同时检测多层镀层和成分
发布时间:2020-07-08 浏览:197

XF-P1和XF-P3是西凡仪器面向镀层检测行业推出的两款高性能镀层测厚仪,内置工控电脑,运行Smart FP算法,无需标样,可同时精准检测镀层厚度和成分。可广泛应用于各种电镀、化学镀、连接器,电镀液、PCB镀层分析等行业。检测速度快,测试稳定性好、准确性高。

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XF-P3产品外观图




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XF-P3检测6层标样统计界面图